影响epk涂层测厚仪测量精度的因素

a) 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以

认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相

同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

b) 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方

法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c) 基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属

厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d) 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是

不可靠的。

e) 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，

在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f) 试件的变形

影响测量精度的因素

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测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g) 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗

糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，

以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金

属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖

层后，再校对仪器的零点。

g) 磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

h) 附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除

附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

i) 测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

j) 测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。