QNix 7500两用探头测厚仪

QNix 7500两用探头测厚仪

QNix 7500两用探头测厚仪

测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：1、接触式测厚仪接触面积大小划分：点接触式测厚仪面接触时测厚仪

2、非接触式测厚仪非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.白光干涉测厚仪电解式测厚仪

QNix7500：

通过与工艺，行业和服务行业的用户密切合作，已经创建了一个模块化涂层厚度计，将各种经过验证的QNix7500量规的许多特性结合在一个设备中。模块化测量系统QNix7500是一种特别小巧便利的涂层厚度计，可直接插入微型探头。为了灵活使用，微型探头也可以连接到延长电缆。QNix7500模块化测量系统提供高达5000μm的移动性，高测量精度，易于处理和不同寻常的应用。 QNix7500是一种特别小巧便利的测量仪，用于对所有Fe和NFe衬底上的涂层厚度进行非破坏性测量。可以通过直接插入微型探头或将探头连接到插入的延长电缆上使用。

QNix 7500两用外置探头测厚仪

影响测厚仪测量数值的主要因素：

1.工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀，耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。        2.铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大，超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减，被散射的超声波沿着复杂的路径传播，有可能使回波湮没，造成不显示。可选用频率较低的粗晶探头(2.5MHz)。        3.被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑，造成声波衰减，导致读数无规则变化，在情况下甚至无读数。        4.金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成误差，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。