了解Surtronic S116粗糙度仪的参数选择

　　为研究表面粗糙度对零件性能的影响和度量表面微观不平度的需要，从20年代末到30年代，欧美等国等设计制作了轮廓记录仪、轮廓仪，给从数值上定量评定表面粗糙度创造了条件。

　　30年代起，已对表面粗糙度定量评定参数进行了研究，美国人提出了用距表面轮廓峰顶的深度和支承长度率曲线来表征表面粗糙度。1936年出版了表面粗糙度的专著，对表面粗糙度的评定参数和数值的标准化提出了建议。

　　但粗糙度评定参数及其数值的使用，真正成为一个被广泛接受的标准还是从40年代各国相应的标准发布以后开始的，这样的仪器设备就叫粗糙度仪，由于以前叫表面光洁度所以表面粗糙度仪人们又习惯的成为表面光洁度仪。

　　Surtronic S116粗糙度仪的参数怎样选择呢？

　　1.对于光滑表面和半光滑表面一般采用Ra作为评定参数。Ra值反映实际轮廓微观几何形状特性的信息量大，而且Ra值用触针式电动轮廓仪测量比较容易。

　　2.对于极光滑和极粗糙表面，宜采用Rz作为评定参数。Rz值通常用非接触式的光切显微镜测量。但Rz不如Ra对表面微观几何形状特征反映的全面。

　　3.对不允许出现较大加工痕迹和受交变应力作用的表面，应采用Ry作为评定参数。Ry概念简单、测量简便，但Ry不如Ra或Rz反映全面。因此对于狭小表面，Ry具有实际意义。另外可按实际情况，Ry与Ra或Rz联用，综合控制表面粗糙度。

　　4.对密封性要求高的表面，可使用间距特性参数Sm和S。

　　5.对耐磨性要求高的表面可规定tp。