X射线荧光(XRF)方法(X-Strata920)

X射线荧光(XRF)仪器的工作原理是对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

X射线荧光分析的优点(X-Strata920)
• 少或无需样品制备
• 无损分析
• 可测元素范围广： Ti 22 to U92
• 可分析固体和溶液
• 分析快速：几秒内得到结果
• 定性、半定量和全定量分析
• 操作容易，只需要简单培训
• X射线荧光标准检测方法、规格和操作指导通用，可提高产品质量、安全性，便于市场准入和贸易，增强客户信心。例如：

应用：

电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力
• 确保元件可靠性– 同时测量焊料合金成份和 镀层厚度
• 优化质量控制，确保产品生命期例如：
–分析导电性镀层金和钯的厚度
–测量电脑硬盘上的NiP层厚度

五金电镀
电镀处理的成本小化，产量*大化
• 快速简单的分析
– 同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
–多可分析4层镀层
– 镀液成份分析

金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析
•贵金属合金分析
•黄金纯度分析
•材料鉴定