膜厚仪在运用涂层测厚仪测量时尽量运用被测材质来作为调零的基体，以防止因为不同的材质而致使导磁性不同，而呈现测量误差。等到在被测材质的同一部位调零以后，再实行一样部位的测量，如在侧脸工件边缘及中间部分时当分别调零。


在应用膜厚仪仪实行测量时还该当注意探头和被测料面维持垂直，以免发生大的误差。若是测量的同一个点，可将探头每次都离开10公分以上，间隔几秒后再实行测量，以免被测材质探头磁化而影响测量结果。
膜厚仪作为调零用的外表面须要尽量维持光滑，假如外表面不光滑，该当视状况取平均值，由于外表面粗糙度对测量的数值影响较大。构造不同应分别实行调零测量，平面调零侧脸平面，测量凹面调零后测量，测量凸面调零后实行测量，防止因为构造不同而在测量上发生误差。