霍尔效应瓶壁测厚仪测试的理论依据：是在测试过程中，仪器先采集并感知到电势差的变化，在其它因素不变的情况下，电势差的变化与磁场的作用强度成正比关系，而磁场强度与被测厚度成反比关系，这样电势差就与被测厚度就成反比关系，用户可以依据在该电磁环境达到平衡态时，电荷所受磁场的洛伦兹力与偏移后聚集电荷产生电场的电场力相等这一结论进行推理得出以上关系。

　　测量方法其实很简单：在被测的玻璃瓶罐内放入一粒钢珠，当被测瓶罐内的钢珠靠近仪器上的测量探头时，测量头上磁场的引力就把钢珠吸在瓶罐的内壁上。这时钢珠与测量头之间的距离就是被测的厚度，当然，需要内部单片机系统测量该磁场强度并矫正线性、补偿温度系数才能得出被测玻璃瓶的实际厚度值并显示出来。

　　关于温度因素的影响：主要是影响电荷的移动速度，电流是“自由电荷”发生定向移动形成的，金属导体内部发生定向移动的电荷是自由电子。分子动理论认为，温度越高分子运动越剧烈；因而就增大了阻碍自由电子定向移动的畅通。因为洛伦兹力与电荷的速度有关，进而影响到电势差的大小。所以温度对测量也会有所影响，只是在一定范围内影响程度很小，仪器自身也做了温度曲线矫正，但温度若超过仪器适应范围，可能会影响到测量结果。

　　霍尔效应瓶壁测厚仪的特点：

　　1.测量直观方便、无损；

　　2.对玻璃瓶的瓶身、瓶肩、瓶底等部位均可进行测量；

　　3.仪器设有按键可以显示zui小厚度和锁存厚度；

　　4.测量数据可以通过RS232接口传输到电脑或其他外设。