MiniTest 1100涂层测厚仪
更新时间:2017-02-16 点击次数:1130次
MiniTest 1100 / 2100 / 3100 / 4100 系列涂层测厚仪 |
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产品特点:
·MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能; ·所有型号均可配所有探头; ·可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机; ·可使用一片或二片标准箔校准。 |
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技术参数
型号 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
MINITEST 存储的数据量 |
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) |
1 |
1 |
10 |
99 |
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
可用各自的日期和时间标识特性的组数 |
- |
1 |
500 |
500 |
数据总量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
MINITEST统计计算功能 |
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
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- |
√ |
√ |
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 |
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- |
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√ |
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 |
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√ |
√ |
显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
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√ |
√ |
其他功能 |
设置极限值 |
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- |
√ |
√ |
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值 |
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- |
√ |
√ |
连续测量模式中测量稳定后显示读数 |
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√ |
√ |
连续测量模式中显示zui小值 |
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- |
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√ |
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MiniTest涂层测厚仪可选探头参数 所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。 F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能 |
探头 |
量程 |
低端分辨率 |
误差 |
zui小曲率半径 |
zui小测量区域直径 |
zui小基体厚度 |
探头尺寸 (mm) |
磁 感 应 法 |
F05 |
0-500um |
0.1um |
±(1%±0.7um) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62 |
F1.6 |
0-1600um |
0.1um |
±(1%±1um) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
F1.6/90 |
0-1600um |
0.1um |
±(1%±1um) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
F2/90 |
0-2000um |
0.2um |
±(1%±1um) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
F3 |
0-3000um |
0.2um |
±(1%±1um) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
F10 |
0-10mm |
5um |
±(1%±10um) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46 |
F20 |
0-20mm |
10um |
±(1%±10um) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66 |
F50 |
0-50mm |
10um |
±(3%±50um) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70 |
两 用 |
FN1.6 |
0-1600um |
0.1um |
±(1%±1um) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50um |
φ15x62 |
FN1.6P |
0-1600um |
0.1um |
±(1%±1um) |
平面 |
30mm |
F0.5mm/N50um |
φ21x89 |
FN2 |
0-2000um |
0.2um |
±(1%±1um) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50um |
φ15x62 |
电 涡 流 法 |
N02 |
0-200um |
0.1um |
±(1%±0.5um) |
1/10mm |
2mm |
50um |
φ16x70 |
N.08Cr |
0-80um |
0.1um |
±(1%±1um) |
2.5mm |
2mm |
100um |
φ15x62 |
N1.6 |
0-1600um |
0.1um |
±(1%±1um) |
1.5/10mm |
2mm |
50um |
φ15x62 |
N1.6/90 |
0-1600um |
0.1um |
±(1%±1um) |
平面/10mm |
5mm |
50um |
φ13x13x170 |
N2 |
0-2000um |
0.2um |
±(1%±1um) |
1.5/10mm |
5mm |
50um |
φ15x62 |
N2/90 |
0-2000um |
0.2um |
±(1%±1um) |
平面/10mm |
5mm |
50um |
φ13x13x170 |
N10 |
0-10mm |
10um |
±(1%±25um) |
25/100mm |
50mm |
50um |
φ60x50 |
N20 |
0-20mm |
10um |
±(1%±50um) |
25/100mm |
70mm |
50um |
φ65x75 |
N100 |
0-100mm |
100um |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50um |
φ126x155 |
CN02 |
10-200um |
0.2um |
±(1%±1um) |
平面 |
7mm |
无限制 |
φ17x80 |
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注: |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
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