SIDSP®技术是由ElektroPhysik开发的。有了这项新技术，ElektroPhysik创新的涂层厚度测量的另一个新*。这是几十年开发特殊传感器和使用技术的经验的结果。 SIDSP代表“传感器集成数字信号处理”，意味着特殊的微处理器（DSP）收集，过滤和处理传感器头中的测量值。

• 高于平均精度和重复精度
• 整个范围内的温度补偿
• 磨损保护，抛光传感器磁极
• 高抗电磁干扰（EMC）
• 内部特性曲线，zui多50个数据点
• 自动补偿有色金属情况下的导电值
• 用于各种测量工作的通用传感器。

以数字形式发送的通信接口。 数字信号处理确保以防止信号噪声（任何测量过程中发生的），以便获得无干扰的测量信号。因此，读数的变化是非常小的（模拟程序无法实现），是非常准确的读数。可以得到的结果，通过使用测量台。确保测量台读数是在*相同的位置。如果读数总是在同一地点，几乎任何变化都可以被排除在外。在相同的测量点，一组10个读数，结果几乎是相同。 

SIDSP®技术，传感器集成数字信号处理，利用这项新技术，ElektroPhysik为创新的涂层厚度测量创造了新的基准。高精度，的可重复性，高温稳定性以及出色的适应性，这些是SIDSP®的主要特性。创新的生产技术结合自动校准程序，充分利用SIDSP®技术所提供的出色的基本传感器特性。在制造过程中的的精度使得每个单独的传感器具有高度相同的特性。重复性读数的可靠性主要取决于读数的重现性。电磁干扰zui常见的是误差的根源，保护测量系统和传感器电缆免受这种干扰至关重要。与传统技术不同，SIDSP®传感器为传感器内部的传感器头创建和控制激励信号。返回信号被直接数字转换和处理以提供厚度值。该值通过传感器电缆以数字方式传输到显示单元。换句话说：在模拟测量系统的情况下，在信号传输期间不再有干扰。即使您的应用需要非常长的电缆 - 没有问题 - 增加的抗干扰能力仍然存在长电缆延伸。

ElektroPhysik的SIDSP®传感器实现了迄今为止的再现性。将传感器放置在同一测量点上几次，您将获得*相同的结果 - SIDSP®传感器的高性能的另一个证明。

采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。

SIDSP工作原理？

跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。

涂层测厚仪为什么选择SIDSP？

SIDSP探头具有*的抗干扰性。任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有*的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的性能。

高度的SIDSP探头特征曲线在生产过程中，EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上进行校准，大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分，将测量错误降至zui低。