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elektrophysik测厚仪德国EPK MiniTest 730 |
必威App安卓版的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着精良制造技术的精益求精。 |
elektrophysik测厚仪德国EPK MiniTest 730优点一览:
-SIDSP使测量不受干扰,测值更加
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
涂层测厚仪技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 |
F1.5,N0.7,FN1.5 |
F2 |
F5,N2.5,FN5 |
F15 |
||
F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
测量范围 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
使用范围 |
小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 |
粗糙表面 |
标准探头,使用广泛 |
厚涂层 |
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测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
信号处理 |
探头内部32位信号处理(SIDSP) |
|||||
度 |
±(1μm+0.75%读值) |
±(1.5μm+0.75%读值) |
±(5μm+0.75%读值) |
|||
重复性 |
±(0.5μm+0.5%读值) |
±(0.8μm+0.5%读值) |
±(2.5μm+0.5%读值) |
|||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
|||
zui小曲率半径(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
|||
zui小曲率半径(凹,外置探头) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
zui小曲率半径(凹,内置探头) |
30mm |
30mm |
30mm |
|||
zui小测量面积 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
|||
zui小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 |
|||||
单值模式下zui大测量速度 |
每分钟70个读数 |
主机
型号 特性 |
MiniTest 720 |
MiniTest 730 |
MiniTest 740 |
探头类型 |
内置 |
外置 |
内置外置可换 |
数据记忆组数 |
10 |
10 |
100 |
存储数据量 |
zui多10,000个 |
zui多10,000个 |
zui多100,000个 |
统计值 |
读值个数,zui小值,zui大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) |
||
校准程序符合标准和规范 |
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 |
||
校准模式 |
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 |
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极限值监控 |
声、光报警提示超过极限 |
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测量单位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
||
操作温度 |
-10℃-60℃ |
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存放温度 |
-20℃-70℃ |
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数据接口 |
IrDA 1.0(红外接口) |
||
电源 |
2节AA电池 |
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标准 |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
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体积 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
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重量 |
约175g |
约210g |
约175g(内置)/230g(外置) |