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elektrophysik测厚仪德国EPK MiniTest 730 |
的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。 |
elektrophysik测厚仪德国EPK MiniTest 730优点一览：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加
-可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
涂层测厚仪技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下zui大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
主机
型号 特性 | MiniTest 720 | MiniTest 730 | MiniTest 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
统计值 | 读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
校准程序符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
