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MiniTest7400壁厚仪ElektroPhysik专业品质

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德国 MiniTest740膜厚仪原理

MiniTest740膜厚仪ElektroPhysik测厚仪专业品质

    的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。

    优质成就价值——Focus On Better Quality为宗旨,专注于计量检测和材料分析设备的研究、引进与推广,公司以深厚的工程技术背景和高效率的资源整合帮助企业在原始设计、开发周期、产品质量、在役检测等各方面显著提升效率和可靠性。

 

 

MiniTest740膜厚仪ElektroPhysik测厚仪专业品质MiniTest740测厚仪技术参数

测量范围

测量误差*

FH4探头

0-1.5mm用1.5mm钢球测

±(3um+1%读值)

 

0-2.5mm用2.5mm钢球测

±(5um+1%读值)

 

0-4.0mm用4mm钢球测

±(10um+1%读值)

FH10探头

0-2.5mm用2.5mm钢球测

±(5um+1%读值)

 

0-4.0mm用4mm钢球测

±(10um+1%读值)

 

0-10.0mm用6mm钢球测

0-6mm:±(20um+1%读值)

  

6-10mm:±(1.5%读值)

 

0-10.0mm用9mm钢球测

0-10mm:±(20um+1%读值)

低范围分辨率

0.1um(FH4)/0.2um(FH10)

重复性

优于±(1um+0.5%读值)

测量原理

静磁原理

速度

1,2,5,10,20个读值每秒(可选)

数据存储

240,000个(7200 FH100,000个)

校准模式

出厂设置,零校准,多达4点校准

测量单位

公制(um,mm),英制(mils,inch)

统计图表

数字,趋势图,柱状图(仅限7400 FH)

接口

RS232 TTL + IrDA 1.0

操作温度

-10℃ ~ +60℃(保存温度-20℃ ~ +80℃

体积/重量

153mm x 89mm x 32mm / 310g

供电

4 x AA(LR06)电池,或可选电源(90-240V / 48-62Hz)

 

MiniTest740测厚仪原理

•   能够对所有金属基材上的非破坏性测量

•   拥有非常多种图形显示选项

• 简单的菜单控制界面,更强的数据和配置管理

• 仪器能够用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件

• 拥有配置测量厚度高达35mm的各种耐磨探头

• 先进的SIDSP®技术提升度和重现性

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