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地 址：上海市浦东外高桥自贸区富特东三路526号5号楼311室
技术参数
探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
| 测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
| 信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
| 度 | ±（1μm 0.75%读值） | ±（1.5μm 0.75%读值） | ±（5μm 0.75%读值） | |||
| 重复性 | ±（0.5μm 0.5%读值） | ±（0.8μm 0.5%读值） | ±（2.5μm 0.5%读值） | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
| 单值模式下zui大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
SIDSP技术详解
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪
-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
