德国EPK现货供应MiniTest 720无损测厚仪

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SIDSP探头先进技术：

探头特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
测量范围	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范围	小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用		粗糙表面	标准探头，使用广泛		厚涂层
测量原理	磁感应	电涡流	磁感应	磁感应	电涡流	磁感应
信号处理	探头内部32位信号处理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%读值）		±（1.5μm+0.75%读值）			±（5μm+0.75%读值）
重复性	±（0.5μm+0.5%读值）		±（0.8μm+0.5%读值）			±（2.5μm+0.5%读值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
小曲率半径（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
小曲率半径（凹，外置探头）	7.5mm		10mm			25mm
小曲率半径（凹，内置探头）	30mm		30mm			30mm
小测量面积	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
小基体厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
连续模式下测量速度	每秒20个读数
单值模式下大测量速度	每分钟70个读数

拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴，凭借种类齐全的产品资源和服务，涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备，努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战，共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。
的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

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