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ElektroPhysik测厚仪Mintest 3100膜厚仪
ElektroPhysik测厚仪Mintest 3100膜厚仪
探头 | 量程 | 低端 | 误差 | zui小曲率 | zui小测量 | zui小基 | 探头尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
两 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
电 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 无限制 | φ17x80mm | |
特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
代理型号介绍：
MIKROTEST（麦考特）磁性涂层测厚仪
MINITEST、EXACTO电子型测厚仪
QUINTSONIC超声波涂层测厚仪
FH 7200/7400霍尔效应壁厚测厚仪
STRATOTEST路面测厚仪、炉壁测厚仪
GALVANOTEST库仑测厚仪
POROTEST 7电火花针孔检测仪
PENTEST笔式,WETTEST湿膜等测厚仪
是德国EPK（Elektrophysik）授权代理商，专业代理出售EPK系列测厚仪，专业，可靠，期待您的来电！
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：张磊
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公司地址：上海市浦东新区外高桥保税区华京路418号
致力于长度计量仪器，光学仪器、形状类仪器，材料检测仪器，涂装与表面处理检测仪器的销售与维护服务。主要代理德国菲希尔涂层测厚仪产品，并且我司具有许可进出口经营权。
本公司有专业销售和技术人员，为客户提供方信守合同便，快捷的售前（演示设备、介绍技术）售中（为客户选型、满足客户要求），售后服务（设备维护、保养问题）在客户需要的时候，我们的专业人员能够即来到客户现场，提供急需的服务。
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
