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epk授权代理膜厚仪
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德国epk进口FH7400FH膜厚仪ElektroPhysik测厚仪
适用于非磁性材料的测量 ；测量厚度高达10mm ；是复杂形状的瓶子、铝罐、玻璃和塑胶工件的理想测量工具 ；用户菜单控制界面 ；上下文关联的在线帮助 ；统计过程控制功能
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霍尔效应测厚仪高度厚度测量
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便携式的厚度测量工具，可准确测量厚达10mm的材料。便携而小巧的外形使其可在生产现场和实验室进行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各种非磁性材料上进行简单，无损，高精度的厚度测量，无论它们的大小、形状和材质如何。它还是尖角，小半径和复杂形状工件理想的测量工具。
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epk膜厚仪经销商
霍尔效应测厚仪高度厚度测量
MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH是便携式的厚度测量工具，可准确测量厚达10mm的材料。便携而小巧的外形使其可在生产现场和实验室进行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各种非磁性材料上进行简单，无损，高精度的厚度测量，无论它们的大小、形状和材质如何。它还是尖角，小半径和复杂形状工件理想的测量工具。
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| 测量范围 | 测量误差 |
FH4探头 | 0-1.5mm用1.5mm钢球测 | ±(3um+1%读值) |
| 0-2.5mm用2.5mm钢球测 | ±(5um+1%读值) |
| 0-4.0mm用4mm钢球测 | ±(10um+1%读值) |
FH10探头 | 0-2.5mm用2.5mm钢球测 | ±(5um+1%读值) |
| 0-4.0mm用4mm钢球测 | ±(10um+1%读值) |
| 0-10.0mm用6mm钢球测 | 1-6mm：±(20um+1%读值) |
|
| 6-10mm：±(1.5%读值) |
| 0-10.0mm用9mm钢球测 | 1-10mm：±(20um+1%读值) |
低范围分辨率 | 0.1um（FH4）/ 0.2um（FH10） | |
重复性 | 优于±(1um+0.5%读值) | |
测量原理 | 静磁原理 | |
速度 | 1，2，5，10，20个读值每秒（可选） | |
数据存储 | 240,000个（7200 FH多100,000个） | |
校准模式 | 出厂设置，零校准，多达4点校准 | |
测量单位 | 公制（um，mm），英制（mils，inch） | |
统计图表 | 数字，趋势图，柱状图（仅限7400 FH） | |
接口 | RS232 TTL + IrDA 1.0 | |
操作温度 | -10℃ ~ +60℃（保存温度-20℃ ~ +80℃ ） | |
体积/重量 | 153mm x 89mm x 32mm / 310g | |
供电 | 4 x AA（LR06）电池，或可选电源（90-240V / 48-62Hz）
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：王工
公司地址：上海市浦东新区外高桥保税区华京路418号
涂层测厚仪校准注意事项，应注意下列要点：
1.正确的校准对产品测量是至关重要的。对于校准，将采用一个与后来被测量的物体相类似的样品，即同时，标准试样和衡量的对象应具有相同的形状和几何。基本上，更多测量对象的标准试样匹配，测量结果将更加准确。
2.确定校准样品和被测量物体的以下属性匹配： -- 表面的曲率半径 -- 衬底材料(如磁导率，电导；以理想的方式，标准试样和测量对象应是同样的材料) -- 基材厚度 -- 测量区域的尺寸3.在开始校准之前，确保校准点，传感器提示和校准的样板是干净的。如果有必要，去除任何如油脂，金属屑等堆积物。任何杂质可能影响校准和导致校准的不稳定。
4.确保总是找到各自的同一校准位置，特别是小零件的测量和在棱角的测量。小零件建议使用测量支架。
5.在校准过程中远离强磁场。
6.更多可以与预期厚度匹配的标定标准厚度，将校准和测量更加准确。
7.根据电磁感应方法，测量钢或铁衬底上的有色金属涂料的厚度，需要多点校正。厚度标准样本必须由作为以后要测量的物体相同的金属制成。
8.如果使用校准箔，确保它们被放置在基板材料的平面位置上。箔下面的空气间隙必须避免，因为这将导致不稳定的读数。如果是曲线的铝箔，确保它们放置在基体上，如下所示。
