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Elektrophysik Mintest 2100测厚仪一级经销商

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Elektrophysik Mintest 2100测厚仪一级经销商

 

产品概述:Elektrophysik Mintest 2100测厚仪是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。主要应用于防腐、电镀、化工、汽车、造船、航空、轻工等行业,适合实验室、工厂和户外现场使用。本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如:铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

性能特点:配备有坚固耐磨的传感器,确保使用寿命;各种型号的特殊探头,满足不同的的探测需求;广泛的应用程序,测量精度高、重复性好;可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;可使用一片或二片标准箔校准。

探头:所有探头都可以连接,包括F型、N型FN两用型;ElektroPhysik开发了一种“智能探头”的概念,如果测量任务改变,允许与连接到相同规格的另一个探头一起工作。探头的特性曲线存储在探头连接器中,并由仪表的微处理器进行评估。 因此可以编程给客户应用的特性曲线,例如, G。 特殊合金,特殊几何形状等。所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

为多种精密检测仪器设备提供专业的技术服务及售后服务,以技术能力专业、产品资源全面、服务周到快捷、设备质量可靠为宗旨,在机械加工、先进制造、新材料应用、科学研究等前沿领域具有*优势。咨询:。进一步了解产品详细参数信息。

详细信息

型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量

应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,并可设宽容度极限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-

显示并打印测量值、打印的日期和时间

-

其他功能

透过涂层进行校准(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校准

利用计算机进行基础校准

补偿一个常数(Offset)

-

-

外设的读值传输存储功能

-

保护并锁定校准设置

更换电池是存储数值

设置极限值

-

-

公英制转换

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值

-

-

连续测量模式中测量稳定后显示读数

-

-

浮点和定点方式数据传送

组内单值延迟显示

-

连续测量模式中显示zui小值

探头信息

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度

F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等 

F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

 

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