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Mintest 3100测厚仪产品特点

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Mintest 3100测厚仪产品特点

作为无损检测厚度行业的*，德国EPK公司多年来一直致力于防腐层检测，特别是涂层测厚仪的产品更是远销*。

德国EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；所有型号均可配所有探头；可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；可使用一片或二片标准箔校准。

Mintest 3100测厚仪产品特点应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数），每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计，可设宽容度极限值），可用各自的日期和时间标识特性的组数

数据总量
MINITEST统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar ，读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk ，组统计值六种x,s,n,max,min,kvar ，组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk ，存储显示每一个应用行下的所有组内数据，分组打印以上显示和存储的数据和统计值，显示并打印测量值、打印的日期和时间

其他功能

透过涂层进行校准（CTC），在粗糙表面上作平均零校准，利用计算机进行基础校准，补偿一个常数（Offset），外设的读值传输存储功能，保护并锁定校准设置，更换电池是存储数值，设置极限值，公英制转换，连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值，连续测量模式中测量稳定后显示读数，浮点和定点方式数据传送，组内单值延迟显示，连续测量模式中显示zui小值

产品特点：

适用于多种应用的耐磨探头
具有自动基板检测的通用探头允许钢和有色金属的快速测量
具有几乎无限寿命的耐磨探头
测量精度高，重复性好
测量值的存储与评估
特殊的粗糙表面和校准标定函数未知涂层(CTC方法)
所有的探头都配备了耐磨杆，确保使用寿命长，也适用于磨料基板。

我们可以根据要求提供特殊的探头型号：
在潮湿地区使用的*密封探头；
温度高达250°C和350°C适用的耐热探头；

非破坏性测量覆盖以下测量范围：

0 - 50mm钢无磁性涂料
0 - 100mm有色金属绝缘涂层
10-200µM绝缘基材铜层
0 - 1600µM钢和有色金属粉末涂料

所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)	1	1	10	99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值)		1	10	99
可用各自的日期和时间标识特性的组数		1	500	500
数据总量	1	10000	10000	10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar		√	√	√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar			√	√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据				√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值			√	√
显示并打印测量值、打印的日期和时间		√	√	√
其他功能
设置极限值			√	√
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别*大*小值			√	√
连续测量模式中测量稳定后显示读数			√	√
连续测量模式中显示***小值

(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

探头		量程	低端分辨率	误差	zui小曲率半径(凸/凹)	zui小测量区域直径	zui小基体厚度	探头尺寸
磁感应法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
两用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
电涡流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	无限制	φ17x80mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

探头选择：

FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
两用测头，特别适合测粉末状的覆层厚度

F05
0～500μm,φ3mm
磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
0～3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层

F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0～10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等

F20
0～20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等

F50
0～50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02
0～200μm,φ2mm
非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0～10mm,φ50mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等

N20
0～20mm,φ70mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等

N100
0～100mm,200mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等

CN02
10～200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板

的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

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：张磊

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