Elektrophysik　MINITEST 7400FH测厚仪市场价

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Elektrophysik MINITEST 7400FH测厚仪市场价

霍尔效应从本质上来讲就是运动的带电粒子在磁场中受洛伦兹力作用引起的偏转。霍尔效应不但是测定半导体材料光学参数的主要手段而且随着电子技术的发展，利用该原理制成的霍尔部件由于结构简单，频率响应宽，寿命长，可靠性该等优点，已经广泛应用于非电量材料，自动控制和信息处理等方面。

MINITEST 7400FH霍尔效应壁厚仪应用与测量非磁性材料的壁厚，非常方便实用。它体型不大，携带方便，测量复杂形状的物体尤其管用，如玻璃瓶子，铝罐等。

德国Elektrophysik壁厚测厚仪MiniTest 7400FH便携式壁厚测量装置，可无损测厚度高达24mm可用于非磁性材料,如玻璃、合成材料、不锈钢复合材料,也可以用于复杂几何形状的对象。SIDSP传感器确保高测量精度和可重复性，补偿测量环境和测量温度的影响。传感器配有硬质合金金属技巧使他们非常耐磨。

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MINITEST 7400FH霍尔效应壁厚仪的用户界面简单易懂，操作轻松上手。菜单界面使操作设置一目了然。MiniTest 7400 FH 除7200的所有功能，另有统计图表、当前趋势图、zui多200组的数据库，存储量增至240,000个数据（如每组1200个数据）。具有以下特性：

高达24mm壁厚测量的精度

更高的精度和重复精度的传感器集成的数字信号处理（sidsp®）
高分辨率超过0.1µM

每秒20个读数

具有硬化传感器的耐磨传感器

高达240000读数的记录和统计评价

显示zui小值和zui大值

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技术参数

	测量范围	测量误差
FH4探头	0-1.5mm用1.5mm钢球测	±(3μm+1%读值)
	0-2.5mm用2.5mm钢球测	±(5μm+1%读值)
	0-4.0mm用4mm钢球测	±(10μm+1%读值)
FH10探头	0-2.5mm用2.5mm钢球测	±(5μm+1%读值)
	0-4.0mm用4mm钢球测	±(10μm+1%读值)
	0-10.0mm用6mm钢球测	1-6mm：±(20μm+1%读值)；6-10mm：±(1.5%读值)
	0-10.0mm用9mm钢球测	1-10mm：±(20μm+1%读值)
低范围分辨率	0.1μm(FH4)/ 0.2μm(FH10)
重复性	优于±(1μm+0.5%读值)
测量原理	静磁原理
速度	1，2，5，10，20个读值每秒(可选)
数据存储	240,000个(7200 FHzui多100,000个)
校准模式	出厂设置，零校准，多达4点校准
测量单位	公制(μm，mm)，英制(mils，inch)
统计图表	数字，趋势图，柱状图(仅限7400 FH)
接口	RS232 TTL + IrDA 1.0
操作温度	-10℃ ~ +60℃(保存温度-20℃ ~ +80℃)
体积/重量	153mm x 89mm x 32mm / 310g
供电	4 x AA(LR06)电池，或可选电源(90-240V / 48-62Hz)

的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

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：张磊

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