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elektrophysik测厚仪MiniTest740
为了质量控制和检验的灵活性，MiniTest740可以轻易由内置探头变换为外置探头，方便测量难以到达的部位。SIDSP探头具有*的抗干扰性、SIDSP－测量信号高稳定性、预设选项节省您的时间和金钱、SIDSP探头对温度变化不敏感、SIDSP探头适应性强、SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿。
elektrophysik测厚仪MiniTest740主机参数
| MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
统计值 | 读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
校准程序符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
MiniTest740主特点
--创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的性
－测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
－FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。
