elektrophysik测厚仪

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elektrophysik测厚仪MiniTest740

为了质量控制和检验的灵活性，MiniTest740可以轻易由内置探头变换为外置探头，方便测量难以到达的部位。SIDSP探头具有*的抗干扰性、SIDSP－测量信号高稳定性、预设选项节省您的时间和金钱、SIDSP探头对温度变化不敏感、SIDSP探头适应性强、SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿。

elektrophysik测厚仪MiniTest740主机参数

型号特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探头类型	内置	外置	内置外置可换
数据记忆组数	10	10	100
存储数据量	zui多10,000个	zui多10,000个	zui多100,000个
统计值	读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）
校准程序符合标准和规范	ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准
校准模式	出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控	声、光报警提示超过极限
测量单位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作温度	-10℃-60℃
存放温度	-20℃-70℃
数据接口	IrDA 1.0（红外接口）
电源	2节AA电池
标准	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
体积	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	约175g	约210g	约175g（内置）/230g（外置）