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ELEKTROPHYSIK MiniTest740测厚仪概况
-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错
SIDSP技术-技术,智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势
MiniTest740测厚仪采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,先进的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界*技术生产。
MiniTest740测厚仪的SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。
MiniTest740测厚仪为什么选择SIDSP?
SIDSP探头具有*的抗干扰性
任何与测量相关的信号,都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰,因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电,并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题,加长的电缆线同样具有*的抗干扰能力。
SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有*的重现性。将探头放在同一测量点测量几次,每次您都可以得到基本一样的结果,再次证明了SIDSP探头的性能。
SIDSP探头对温度变化不敏感。
在生产过程中,对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码,这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量,与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生
SIDSP探头适应性强
需要快速测量几个点吗?只要开启快速测量模式,探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗?没问题,只要选择高精度模式,仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量,SIDSP都能完成您的选择!
优点一览
SIDSP使测量不受干扰,测值更加
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
ELEKTROPHYSIK MiniTest740测厚仪概况
| MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
统计值 | 读值个数,zui小值,zui大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) | ||
校准程序符合标准和规范 | ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0(红外接口) | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g(内置)/230g(外置) |
:张磊
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