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稳定可靠的涂层测厚仪MiniTest 740

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稳定可靠的涂层测厚仪MiniTest 740

 

SIDSP数字信号处理技术:

EPK此项探头内部数字信号处理新技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。高精度,高重现性,对温度变化不敏感,适应性强,这些都是SIDSP®的主要特点。创新的生产技术结合自动化校准过程,而且每个探头可独立校准,从而生产出高质量7400的探头。

这主要源于充分利用了SIDSP技术赋予的优势。的精密生产过程使得每个探头都如出一辙的优质。

简单介绍:

稳定可靠的涂层测厚仪MiniTest 740按照人体工学设计,外形很适合人手掌握,增加了测量速度设置选项,轻松变换测量需求。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。仪器具备声、光报JING,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。

具有高重现性和高精度特性的新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体)

具有*的抗干扰性和加长电缆的内置可变外置的探头

对温度变化不敏感,内置温度补偿编码的SIDSP探头

适应性强,可随意转换测量模式的SIDSP探头

SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿,SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料,如铜,钛,等等,无需特别在基体上校准仪器。

技术参数:

主机型号

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

zui多10,000个

zui多10,000个

zui多100,000个

统计值

读值个数、zui小值、zui大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合标准和规范

ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

μm,mm,cm;mils,inch,thou

操作温度

-10℃~60℃

存放温度

-20℃~70℃

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

约175g

约210g

约175g(内置)/230g(外置)

-SIDSP使测量不受干扰,测值更加,

-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件

 

的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。

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