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Minitest 2100测厚仪Elektrophysik特约代理

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Minitest 2100测厚仪Elektrophysik特约代理

涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

校准： 

存储在仪器中的标准校准仅只适用于平滑表面的测量，例如: a).生铁，b).铝材上。 
注意:重要的是记录下多个物涂层样本上的的零读数。否则，须使用一点或两点校准.两点校准仅适用于非连续测量模式。测量模式可用的方式转换。 这种方法要用两片厚度至少相差2倍的校准箔。被测样本覆层预计厚度在这两片校准箔之间。这种方法尤其适用于 粗糙的喷砂表面和高精度测量。校准时采用多次测读取平均值的方法，可以大大地减少高低值校准时出现的波动带来的影响。

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。

统计：

单值统计模式下，可以显示和打印所有读数和统计值。若连接了打印机，将打印: 所有读数、6个统计值。测厚仪上电后即可用于测量。所有读数自动记入统计程序。 

在直接模式下，只有读数统计功能。组统计时，读数记入组块。组块的大小可以由PC和软件改变。默认5个读数为1组块，逐组统计。其统计结果显示和打印如下:

N-Groups:  组块数 
MEAN(X):  所有均值的均值

ST.D(S):   均值标准偏差

KVAR:   均值变异系数

MAX:    zui大均值 MIN:  

zui小均值 
注意:每组测量完成(一般是第5次测读)之后，仪器发出两声"嘀嘀"，对MINITEST2100而言直接模式下无组统计功能。要产生统计结果，至少需要两个读数或组块，还需要输入极限。

探头参数:

所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴，凭借种类齐全的产品资源和服务，涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备，努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战，共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。

：张磊
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