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MiniTest 7400测厚仪Elektrophysik批量出货

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MiniTest 7400测厚仪Elektrophysik批量出货

配备众多的接口，MiniTest 7400可以连接各种外接设备。红外接口(IrDA®1.0)可作为标准配置。一个多用接线盒可用来作为一个USB接口连接各种设备，如外借电源、耳机、脚踏开关或警报器。对于单个装置连接，则可选择RS 232和USB连接线以及IrDA®//USB接口转换器。

性能特点：

所有金属基材上的非破坏性测量

多种图形显示选项

菜单控制界面，更强的数据和配置管理

用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件

测量厚度高达35mm的各种耐磨探头

SIDSP®技术提升度和重现性

MiniTest 7400测厚仪Elektrophysik批量出货

模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势。

SIDSP®明显优势

EPK此项探头内部数字信号处理新技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。高精度，高重现性，对温度变化不敏感，适应性强，这些都是SIDSP®的主要特点。创新的生产技术结合自动化校准过程，而且每个探头可独立校准，从而生产出高质量7400的探头。

这主要源于充分利用了SIDSP技术赋予的优势。的精密生产过程使得每个探头都如出一辙的优质。

MiniTest 7400测厚仪内存容量

应用程序内存数量10

每个应用程序存储器的批次数

具有单个值记忆的批次数量100

单个读数的总内存容量10,000

统计

从单值：x-，σ，kvar，n，max。，min。

从单值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

块统计：x =，σ，kvar，n，max。，min。

块统计：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

从同一应用程序（APPL）中的所有子组（BATCH）

分别将值和统计打印到APPL-BATCH组

显示和打印输出和测量时的日期和时间（年，月，日，小时，分钟）

校准方法

通过涂层校准（CTC）

粗糙表面测量。几乎可以消除粗糙度的影响

OFFSET函数添加或减少常量值

外部功能（触发）将读数传送到存储器

键锁定以保护校准

电池更换期间保存读数

限制设置

测量单位为微米或密耳

的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。