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EPK MiniTest 720/730/740技术参数

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EPK MiniTest 720/730/740技术参数

 

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目前SIDSP是技术,智能化数字化的涂层测厚仪探头。该技术是有EPK品牌自主研发,此项技术的在一次创新取得了决定性优势,为涂层测厚领域建立的新标准。

那么,SIDSP有哪些决定性的优势呢?

1)探头具有*的抗干扰性

2)测量型号稳定性高

3)*的高度的探头特征曲线

4)温度对探头不具影响力

5)探头适应能力强

6)N和FN型探头基体导电性补偿

7)将持续发现并改进SIDSP技术,以满足客服的需求

 

 

 

EPK MiniTest 720/730/740技术参数

 

主机:

              型号
  特性  
MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探头类型内置外置内/外置可换
数据记忆组数1010100
存储数据量≤10000个≤10000个≤100000个
统计值读值个数,zui小值,zui大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合标准和规范ISO,SSOC,瑞典标注,澳大利亚标准
校准模式出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控声、光报警提示超过极限
测量单位um, mm, cm, mils,inch,thou
操作温度 -10℃-60℃
存放温度 -20℃-70℃
数据接口IrDA 1.0(红外接口)
电源2节AA电池
标准DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积157mm x 75.5mm x 49mm
重量约175g约210g约175g(内置)230g(外置)

 

探头:

           探头
  特性
F1.5,N0.7,FN1.5F2F5,N2.5,FN5F15
FNFFNF
测量范围0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm
使用范围小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用粗糙表面标准探头,使用广泛厚涂层
测量原理磁感应电涡流磁感应磁感应电涡流磁感应
信号处理探头内部32位信号处理(SIDSP)
±(1μm+0.75%读值)±(1.5μm+0.75%读值)±(5μm+0.75%读值)
重复性 
±(0.5μm+0.5%读值)
±(0.8μm+0.5%读值)±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率0.05μm0.1μm1μm
zui小曲率半径(凸)1.0mm1.5mm5mm
zui小曲率半径(凹,外置探头)7.5mm10mm25mm
zui小曲率半径(凹,内置探头)30mm30mm30mm
zui小测量面积Φ5mmΦ10mmΦ25mm
zui小基体厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm
测量速度连续模式每秒20个读数,单值模式下每分钟70个读数

 

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