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FH7400霍尔效应测厚仪一手货源供应

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FH7400霍尔效应测厚仪一手货源供应

FH7400霍尔效应测厚仪是设计用于非破坏性的厚度测量的便携式测量系统，仪器适用于在现场或实验室使用。FH7400霍尔效应测厚仪使用磁静态原理工作，能对非铁磁材料快速和容易的测量。

该测量系统包括一个方便的传感器，其经由电缆连接到用于可视化和读数的处理的基极和显示单元相连接的。为了测量，由铁磁材料制成的经特殊处理的目标球用作参考。为了测量，一目标球被放置在材料要被测量，使得目标球和传感器之间的材料厚度的测量。该测量系统配备了传感器支架（可作为一个选项）来添加的测量过程中的处理额外的舒适度。

FH7400霍尔效应测厚仪一手货源供应​

创新的SIDSP技术

采用新的SIDSP（传感器集成的数字信号处理技术），创建所有必要的测量信号并且*在传感器本身进行处理。只有*经过处理的数字读数传送到用于显示，统计评估和数据存储的基本单元的过程。不像常用的模拟程序，新SIDSP程序调用在探针电缆中排除在所述测量数据的任何错误的影响。其结果是测量精度和读数的恒常已经至今。完整的传感器技术被集成到一个坚固的不锈钢外壳。

的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

两个传感器型号可供选择：
- FH4传感器以覆盖0 ... 4毫米不等
- FH10传感器以覆盖0 ... 10毫米不等。

使用注意事项：

确保操作员已正确指示关于使用测厚仪，并具有针对具体应用的测量的具体要求基础知识的操作人员应具备以下基本知识：
•测量设备的选择适合自己的应用程序
•在磁静态测量原理基础
•通过周围的田野上磁场的影响
•待测试的材料的表面性质的影响（粗糙度，堆积在表面上）
•测量系列的统计评价
•重力影响参考球

静磁测量原理的局限：

根据磁静态原则只指已被覆盖由磁传感器的测试对象的那些部分从厚度测量获得的信息。出于这个原因，要小心吸取具有未测量对象的其他部分结束笼罩在测定中的传感器。一般情况下，这样的结论是只有在现有的统计数据采集的全面体验和认可的方法予以受理。

装箱单

■ MiniTest 7400 FH主机或MiniTest 7200 FH主机

■ 探头（需要选择）

探头型号

两种探头可供选择

FH4，量程0---4mm

FH10，量程0-10mm

两种探头均为耐磨材料制成，可放心在坚硬的材料上使用，例如玻璃。

■ 探头支架

两种探头均配弹簧式探头支架，使用探头支架可保证探头的稳定性，大限度的保证读值的可重复性，测量小部件请尽量使用探头支架。

■ 操作说明CD，含德文/英文/法文/西班牙文/葡萄牙文/意大利文

■ 速查卡

■ 4节AA电池，LR06型

■ 塑料手提箱

■ 橡胶保护套

■ 磁性螺丝起子

■ 校准套筒：3个

■ 钢珠，不同规格的3套