英国牛津Oxford 涂层测厚仪CMI243华东代理

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涂层测厚仪CMI243华东代理

产品特点：涂层测厚仪，可测量：磁性底材上的非磁性涂层厚度，如钢铁上的非磁性涂镀层，油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等；非磁性底材上的非磁性涂层厚度，如铜、铝、奥氏体不锈钢上的所有绝缘层，阳极氧化膜、油漆、涂料等。

涂层测厚仪CMI243使用方法如下：

1，基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
2，基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
3，边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
4，曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
5，读数次数：通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
6，表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
7，磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
8，测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直CMI243测量了导电涂层在导电层上的涂层厚度。

涂层测厚仪CMI243 允许使用先进的ed电流技术控制电镀涂层工艺。它为导电层的导电涂料提供无损涂层厚度测量。
该系统是专门设计来满足平台、操作人员和质量专业人员的需要的。标准的包装包括一个控制装置，一个ecp-m涡流探针和一组钢标准的钢标准可追溯的校准标准。ecp-m探针是专门为金属材料的金属涂层而设计的，如钢的锌。

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