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产品展示
Minitest 2100测厚仪+F20测头
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
Minitest 2100测厚仪+F20测头
探头型号：
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
| FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度 |
| F05 0～500μm,φ3mm 磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
| F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| F3 0～3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层 |
| F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| F10 0～10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
| F20 0～20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
| F50 0～50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
| N02 0～200μm,φ2mm 非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
| N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N10 0～10mm,φ50mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
| N20 0～20mm,φ70mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
| N100 0～100mm,200mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
| CN02 10～200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板 |
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
