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Surtronic DUO 粗糙度仪工作原理

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Surtronic DUO 粗糙度仪工作原理

   泰勒霍普森公司专业从事精度表面及其轮廓形状测量，是的圆度/圆柱度仪、表面粗糙度轮廓仪、白光干涉表面轮廓仪及超精单点金刚石车床等设备的供应商，总部位于英国莱斯特市，我们提供接触与非接触测量方法以满足多种应用需求，公司产品广泛应用于现代制造业及新兴产业，如半导体、硬盘、精密光学、微纳米学等。并大力发展 为国内总代理。
Surtronic DUO测量原理 ：
通过采用耐磨的金刚石测针部件，以及精 密的机动驱动装置，确保行进正确的水平 距离。当测针划过波峰和波谷时，高感应 度的压电传感器能检测到它的垂直移动， 然后将机械移动转化为电子信号。电子信 号将进行数字化处理并发送到微处理器， 然后使用标准化算法即时计算表面粗糙度 参数。

Surtronic DUO功能：
Surtronic Duo是一种便携式表面粗糙 度测量仪，只需按一键即可测量多个粗糙 度参数。这些参数（如Ra、Rz、Rp、Rv和 Rt）会显示在直观的2.4英寸LCD彩色屏幕 上。使用充电电池，便于在所有环境和表 面进行快速、轻松和的现场测量。 
Surtronic Duo的特点:
测量 - 触觉测量按钮，适用难测到的位置
分体式 - 通过滑轨和锁定装置，分为显示/控制装置和驱动装置两部分
金刚石测针和压电传感器 - 带金刚石的坚固耐磨的压电传感器测针，确保测量结果的可靠性。
蓝牙技术 - 在驱动装置和显示/控制装置之间进行快速可靠的通信
技术参数：
传感器分辨率 ：0.01 μm (0.4 μin)
测量量程(Ra）： zui大 40 μm (1600 μin)
量程(Rz、Rv、Rp、Rt) ：zui大 199 μm (7800 μin)
重复性 ：值的2 % + 噪声
精度： 读数的 5 % + 0.1 μm (4 μin)
噪声： 0.02 μm (0.8 μin)
校准方法： 自动软件校准程序
标准 ：支持按ISO 4287粗糙度标准校准
参数： 标准 ISO 4287
ISO 4287（粗糙度） Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku
ISO 4287（基本） Pa, Pz, Pp, Pv, Pt
数据输出： 屏幕每页zui多5个结果，可选择的屏幕图形
电池： 充电器 Mini USB 5V 1A交流 110-240 V 50/60 Hz
充电时间： 4小时
电量： 电池寿命 充一次电测量超过10,000次
待机时间： 5,000小时
InstantOn ：从待机状态变成准备测量状态zui多5秒钟时间
自动休眠功能： 5分钟
传感器组件： 传感器类型 压电
测针类型： 金刚石，半径 5 μm (200 μin)
传感器： 测力 200 mg
测量类型： 导块式
滤波器： 滤波器类型 高斯
滤波器取样长度： 0.8 mm
驱动装置： 驱动长度 5 mm (0.2 in)
驱动速度： 2 mm/秒（0.08 in/秒）
显示单位： μm / μin
物理规格： 重量（含传感器） 0.4 Kg (14 oz)
电源： 锂充电电池
操作环境： 温度 5 - 40 °C (41 - 104 °F)
湿度： 0 - 80 % 非冷凝
存放环境： 温度 0 - 50 °C (32 - 122 °F)
湿度： 0 - 80 % 非冷凝
快速可靠的测量
轻轻的按下Surtronic DUO表面粗糙度测量仪的测量按钮，在几分钟内就能得到一个完整的可追溯的测量结果，包括可在屏幕上显示的详细轮廓曲线图。
 
特殊设计，坚固耐用
Surtronic DUO的整个机身由塑化橡胶包裹。聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性，适用于zui苛刻的工业环境。
 
InstantOn瞬间苏醒技术
这些型Surtronic DUO粗糙度检测仪器采用InstantOn技术，开机后不到5秒钟就能开始测量

行业标准和可追溯性
英国泰勒-霍普森TAYLOR HOBSON所提供的标准能够用于校正仪器和检查测针磨损，以确保总能够得到zui准确的测量结果。
型表面粗糙度测量仪Surtronic DUO标准配置双校准盖，可用于校准和检查Surtronic Duo仪器。当仪器未在使用时还可用于遮盖和保护传感器。

：朱盛
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