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Perthometer S2粗糙度仪

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Perthometer S2粗糙度仪

特点:
可根据现行标准进行粗糙度和波纹度测量(DIN EN ISO 3274, 如. 带通滤波器)
尽管包含了充电电池，机身重量也很轻
大尺寸、高清晰图形显示，显示结果和轮廓图形
自动提示设计和超大按钮使仪器易于操作
利用内置的热敏打印机可实现快捷的文件打印
PCMCIA 存储卡能存储测量程序、结果和轮廓
附加的S2Prog 编程软件，方便你轻易新建测量程序
范围广、方便使用的软件功能，例如
- 自动设定标准化滤波器和行程长度
- 校准和维护周期的自动监控
- ARC 功能用于消除arc 影响
- 动态和静态校准过程
- 可评定多达 41 参数，根据DIN EN ISO, JIS, ASME, MOTIF,
  R, W, P 和 D 设定的轮廓参数标准，以及MRK/ADK 等特征曲线 
- 多种滤波器和行程长度可选
- 声光信号提示的公差监控
- 仪器设置锁定，以防止意外更改和密码保护
- 内置统计功能
- 功能键键计，一键开始某个独立功能
- 快速调用和打印某测量记录和测量功能
软件可通过PCMCIA 存储卡进行升级
PLC 接口用于集成S2至您生产线上
RS 232 C 接口用于数据传送与远程控制

具体如下图所示 ：

技术数据：
测量原理  → 探针接触测量法
测量范围
范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步长/垂直范围
11,200 测量点/标准扫瞄长度
标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
(.022 in 至 4.724 in)
技术特征
• 依照 ISO / JIS 或 MOTIF标准, 可测量多达 65 种参数,  包括
R, P 和 W 轮廓
• 公差监控和数据统计功能
• 通过 Teach-In 模式, 快速建立 Quick & Easy 测量程序
• 广泛的记录功能
• 模拟操作可帮助操作者更快地悉识系统操作
• 按客户的实际应用情况, 选择不同的系统兀配置
• 可设置不同水平的用户权限
• 通过计算机连接打印机, 可打印 A 4 表格
• 可在计算机上获得所测的轮廓
•  条形图显示传感器位置信号
•  数字按钮输入
•  可记录测量日期和时间
•  轮廓水平和垂直方向缩放比例可调
•  可快速显示测量结果, 包括参数和轮廓演示