涂镀层测厚仪minitest740探头内置外置可换，让用户使用更加灵活，涂镀层测厚仪minitest740更换不同探头既可测小工件，薄涂层，也可测厚涂层，zui大测量到15mm

MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂层测厚仪

涂镀层测厚仪minitest740-优点：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加准确
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高准确度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件

SIDSP技术-*新技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界**的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的**奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界**技术生产。

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您准确的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和准确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。

主机技术参数

主机型号	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探头类型	内置	外置	内置外置可换
数据记忆组数	10	10	100
存储数据量	*多10,000个	*多10,000个	*多100,000个
统计值	读值个数、*小值、*大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合际标准和规范	ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准
校准模式	出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值
限值监控	声、光报警提示超过限
测量单位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
操作温度	-10℃~60℃
存放温度	-20℃~70℃
数据接口	IrDA 1.0(红外接口)
电源	2节AA电池
标准	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
体积	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	约175g	约210g	约175g(内置)/230g(外置)

探头

探头特性	F1.5，N07，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
测量范围	0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范围	小工件，薄涂层		粗糙表面	标准探头，使用广泛		厚涂层
测量原理	磁感应	电涡流	磁感应	磁感应	电涡流	磁感应
信号处理	探头内部32位信号处理(SIDSP)
较准确度	±(1μm+0.75%读值)		±(1.5μm+0.75%读值)			±(5μm+0.75%读值)
重复性	±(0.5μm+0.5%读值)		±(0.8μm+0.5%读值)			±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
*小曲率半径(凸)	1.0mm		1.5mm			5mm
*小曲率半径 (凹，外置探头)	7.5mm		10mm			25mm
*小曲率半径 (凹，内置探头)	30mm		30mm			30mm
*小测量面积	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
*小基体厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
连续模式下测量速度	每秒20个读数
单值模式下*大测量速度	每分钟70个读数