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荧光膜厚仪 xulm240

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型号包括：

        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240

▶丨菲希尔荧光镀层测厚仪介绍：

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的*选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。XULM适合测量小的结构。它配备了微聚焦管，测量点*小可达约100μｍ，同时比例接收器仍然可以保持相对高的计数率。即使很短的测量时间也可以达到很好的重复精度。此外，XULM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造*佳的激励条件。 ​

​         

测量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB               测量连接器:Au/Ni/CuSn6

特性：

    。 凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位
    。 硬件选项丰富多样，可满足各种测量需求
    。 可选配微聚焦 X 射线管，从而可测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面

应用：

    。 铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
    。 防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
    。 印制电路板和柔性电路板上的镀层
    。 接插件和连接器上的镀层
    。 电镀槽液分析

特征：

    。 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。 *高工作条件:50KV,50W
    。 X射线探测器采用比例接收器
    。 准直器:固定或4个自动切换，0.05 x0.05mm到直径00.3mm
    。 基本滤片:固定或3个自动切换
    。 测量距离可在0-27.5mm范围内调整
    。 固定的样品支撑台或手动XY工作台
    。 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。 刻度线经过校准， 显示实际测量点大小。
    。 设计获得许可， 防护全面， 符合德国X射线条例第4章第3节