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GALVANOTEST库仑测厚仪（统计型），仪器应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。GALVANOTEST测厚仪新技术产品

MIKROTEST 6 S10铁基体涂层测厚仪：MIKROTEST塑料涂层测厚仪易于操作，测量时只需向前旋动指轮到标尺端部，将测头定在测量区上，松开自锁机构，开始自动测量。MIKROTEST锁定后，就能直接在标尺上显示出涂层厚度的正确值，单位μm或mm。按说明书规定操作，MIKROTEST塑料涂层测厚仪可不间断地使用很多年，为您进行质量控制。MIKROTEST 6 Ni100专业，诚信！