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ElektroPhysik*涂层测厚仪的校准标准片与基体
更新时间:2017-12-09   点击次数:1529次
一、ElektroPhysik*涂层测厚仪的校准标准片(包括箔和基体)
 
    已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
 
1、校准箔
 
对涂层测厚仪“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。
 
2、有覆盖层的标准片
 
   采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪器,覆盖层应是非磁性的。

二、ElektroPhysik*涂层测厚仪的基体
 
1、对于涂层测厚仪标准基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性,可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
 
2、如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度,可采用下面两种方法进行校准:
 
1) 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准;
 
2)用一足够厚度的,电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件,但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件,不能采用衬垫法。
 
3、如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准,则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率,应与试样的曲率相同。
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